Даниил Пуряев — новинки

Учебное пособие построено на базе материалов дисциплин "Оптические измерения", "Оптические измерительные и контрольно-юстировочные приборы" и "Исследование и контроль оптических систем". В пятой части, которая является продолжением ранее изданных четырех частей учебного пособия с аналогичным названием, подробно рассмотрены вопросы, связанные с проектированием оптической системы двухлучевого интерферометра для контроля формы вогнутых и выпуклых сферических поверхностей большого диаметра. Приведены справочные данные, которые будут полезны студентам при выборе оптимального технического решения. Даны примеры конкретной реализации отдельных модулей оптической системы. Материалы, излагаемые в данном пособии, ранее в учебной литературе не освещались.

Изложены основы оптических измерений. Рассмотрены методы и приборы для измерения показателей преломления и дисперсии оптических материалов, формы оптических поверхностей, конструктивных параметров оптических деталей, основных характеристик оптических приборов и оценки качества создаваемого ими изображения. Даны сведения об оптико-электронных методах и приборах для автоматизации измерений, лазерных и фотоэлектрических интерферометрах, современных критериях качества оптического изображения, о контроле качества астрономической оптики.

В книге рассмотрены методы контроля качества асферических поверхностей оптических деталей, используемых для создания оптических систем с высокими характеристиками, а также приборы, с помощью которых реализуют эти методы. Изложены метод анаберрационных точек и компенсационный метод для контроля асферических поверхностей второго и высших порядков. Рассмотрены новые типы компенсаторов для контроля качества астрономических зеркал крупных телескопов. Приведены параметры универсальных компенсаторов с полезными свойствами, впервые полученными в мировой практике создания компенсаторов.

Книга предназначена для инженеров и научных работников оптико-механической промышленности. Она может быть полезна сотрудникам научно-исследовательских институтов и астрономических обсерваторий.

В книге рассмотрены методы и приборы для контроля оптических материалов, оптических деталей, оптических приборов и методы контроля качества изображения и исследования коррекции оптических систем.
Значительная часть книги посвящена современным объективным способам оптических измерений, использующим новые виды приемников и источников излучений.
Книга рассчитана на работников оптических лабораторий, а также может быть полезна сотрудникам научно-исследовательских институтов и высших учебных заведений.