Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие для вузов

Олег ГлудкинВладимир Черняев

Моя оценка

Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности.

Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705.

Получить эту книгу или продать свою

Перейти
  • Содержание
  • Дополнительная информация об издании

    Год издания: 1980

    Язык: Русский

    Твердый переплет, 360 стр.
    Тираж: 20000 экз.
    Формат: 84x108/32 (130х200 мм)

  • Жанры

Похожие книги

Вы можете посоветовать похожие книги по сюжету, жанру, стилю или настроению. Предложенные вами книги другие пользователи увидят здесь, в блоке «Похожие книги».

Новинки

Смотреть 339

Популярные книги

Смотреть 925